电子芯片是电子产品的核心，所有的控制和操作都集中在芯片中。一般来说，芯片包含在产品外壳中，很少受到灰尘的影响，但不排除一些例外情况，如外壳损坏引起的灰尘侵入，会影响电子芯片的正常运行。通过专业沙尘试验箱可以模拟各种粉尘侵入的场景。通过对电子芯片的粉尘试验，可以很好地发现电子芯片的设计和保护缺陷。

　　电子芯片的防尘试验主要研究不同颗粒大小的粉尘颗粒对电子芯片的影响。试验的目的是检测电子产品外壳对内芯片等部件的保护，了解粉尘侵入对芯片的影响，以及是否会发生短路火灾。利用不同的粉尘浓度来测试电子芯片，制造不同温度和湿度的环境。

 

　　电子芯片防尘试验时，常规粉尘颗粒大小的粉尘一般用作试验源。电子芯片所需的防尘等级一般为IP5或IP6，在完全保护粉尘进入，或粉尘进入后不影响芯片元件的正常运行。一般来说，电子芯片的防尘试验是通过IP6级保护进行的，因为灰尘堆积过多会对电子芯片造成损坏，所以完全除尘是一种很好的保护方法。